Spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem laserowym J200 Tandem LA-LIBS
Spektrometr J200 Tandem LA-LIBS jest przełomowym rozwiązaniem w analizie wykorzystującej odparowanie laserowe (mikropróbkowanie laserowe). Spektrometr może funkcjonować jako niezależne urządzenie lub w połączeniu ze spektrometrem ICP-MS.
Spektrometr LIBS wyposażony jest w laser Nd:YAG. Długość fali wiązki lasera dobierana jest indywidualnie, odpowiednio do wymagań aplikacyjnych użytkownika. Impuls lasera zogniskowany na powierzchni próbki powoduje jej odparowanie, a następnie jonizację/atomizację materiału próbki. Wzbudzone atomy i jony emitują promieniowanie charakterystyczne dla każdego pierwiastka, umożliwiając analizę jakościową i ilościową.
Połączenie spektrometru LIBS z techniką ICP-MS umożliwia analizę przebiegającą dwutorowo w tym samym czasie. Widmo emisyjne pierwiastków jest analizowane przez optyczny spektrometr LIBS. W tym samym czasie odparowany materiał próbki porywany jest przez strumień gazu, transportowany do spektrometru ICP-MS i tam analizowany.
W wyniku analizy LA-ICP-MS otrzymujemy widmo masowe i stężenia analizowanych pierwiastków na poziomie ppb. Wykonywany w tym samym czasie pomiar techniką LIBS pozwala na uzyskanie wyników na poziomie ppm. Analiza widma optycznego (LIBS) umożliwia również oznaczanie pierwiastków takich, jak C, O, N, H i F, których analiza nie jest możliwa za pomocą techniki ICP-MS. Połączenie obu technik stanowi potężne narzędzie analityczne, umożliwiające analizę wszystkich pierwiastków układu okresowego.
Spektrometr J200 Tandem LA-LIBS znajduje zastosowanie w analizie próbek stałych bez konieczności ich mineralizacji, analizie próbek ciekłych i gazowych. Stanowi idealne rozwiązanie do kontroli jakości produktów (bardzo szybka analiza), jak również jako narzędzie w wykonywaniu prac badawczych.
Podstawowa wersja oprogramowania spektrometru oprócz analizy jakościowej i ilościowej poszczególnych pierwiastków umożliwia wykonywanie mapowania geometrycznego 2D i 3D próbek.