O FIRMIE LABORATORIA APLIKACYJNE MSEdu APLIKACJE INSTALACJA SERWIS KONTAKT SŁOWNIK WYDARZENIA SYMPOZJA Zakopane 2019 Wyprzedaż

                   

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

KONTAKT

Adres do korespondencji:

 

MS SPEKTRUM

04-002 Warszawa

ul. Lubomira 4

 

Telefon: (+48) 22 810 01 28

Faks: (+48) 22 810 01 28

E-mail: biuro@msspektrum.pl

 

 

 

 

Systemy ablacji laserowej firmy Applied Spectra

Ablacja laserowa - LIBS

Spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem laserowym J200 Tandem LA-LIBS

Spektrometr J200 Tandem LA-LIBS jest przełomowym rozwiązaniem w analizie wykorzystującej odparowanie laserowe (mikropróbkowanie laserowe). Spektrometr może funkcjonować jako niezależne urządzenie lub w połączeniu ze spektrometrem ICP-MS.

Spektrometr LIBS wyposażony jest w laser Nd:YAG. Długość fali wiązki lasera dobierana jest indywidualnie, odpowiednio do wymagań aplikacyjnych użytkownika. Impuls lasera zogniskowany na powierzchni próbki powoduje jej odparowanie, a następnie jonizację/atomizację materiału próbki. Wzbudzone atomy i jony emitują promieniowanie charakterystyczne dla każdego pierwiastka, umożliwiając analizę jakościową i ilościową.

Połączenie spektrometru LIBS z techniką ICP-MS umożliwia analizę przebiegającą dwutorowo w tym samym czasie. Widmo emisyjne pierwiastków jest analizowane przez optyczny spektrometr LIBS. W tym samym czasie odparowany materiał próbki porywany jest przez strumień gazu, transportowany do spektrometru ICP-MS i tam analizowany.

W wyniku analizy LA-ICP-MS otrzymujemy widmo masowe i stężenia analizowanych pierwiastków na poziomie ppb. Wykonywany w tym samym czasie pomiar techniką LIBS pozwala na uzyskanie wyników na poziomie ppm. Analiza widma optycznego (LIBS) umożliwia również oznaczanie pierwiastków takich, jak C, O, N, H i F, których analiza nie jest możliwa za pomocą techniki ICP-MS. Połączenie obu technik stanowi potężne narzędzie analityczne, umożliwiające analizę wszystkich pierwiastków układu okresowego.

Spektrometr J200 Tandem LA-LIBS znajduje zastosowanie w analizie próbek stałych bez konieczności ich mineralizacji, analizie próbek ciekłych i gazowych. Stanowi idealne rozwiązanie do kontroli jakości produktów (bardzo szybka analiza), jak również jako narzędzie w wykonywaniu prac badawczych.

Podstawowa wersja oprogramowania spektrometru oprócz analizy jakościowej i ilościowej poszczególnych pierwiastków umożliwia wykonywanie mapowania geometrycznego 2D i 3D próbek.

 powrót do zestawienia produktów Applied Spectra

System: J200 - informacje aplikacyjne
 
                

System: J200 - informacje ogólne
 

    Dane techniczne
 

       

  Konfiguracja       

Ablacja laserowa (LA)
Spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem laserowym (LIBS)
Tandem LA/LIBS  

       

  Laser       

Femtosekundowy (fs) - 1030 lub 343 nm
Nanosekundowy (ns) - 1064, 266, lub 213 nm  

       

  Detektor LIBS       

Detektor o szerokim zakresie spektralnym
Detektor o wysokiej czułości
Inne opcje dostępne na zapytanie  

       

  Inne       

Zmienna średnica plamki (5 µm - 250 µm)
Zaawansowane opcje obrazowania próbki
Najlepsze na rynku oprogramowanie dla LIBS i LA
Opcja konfiguracji urządzenia zgodnie z wymaganiami użytkownika
Opcja konfiguracji oprogramowania zgodnie z wymaganiami użytkownika

W celu ustalenia najlepszej konfiguracji odpowiadającej Państwa aplikacji, prosimy o kontakt z biurem MS Spektrum.  

         

J200 - ulotka dotycząca sprzętu (ang.)
prosimy o kontakt
z przedstawicielem handlowym MS Spektrum

         

J200 - ulotka dotycząca oprogramowania (ang.)

 pobierz plik 

 (3801 Kb) 

  link do strony producenta: Applied Spectra - USA

 

 
 
O firmie
Laboratoria aplikacyjne
msedu
Aplikacje
Instalacja
Serwis
Kontakt
Słownik
Wydarzenia
Sympozja
zakopane 2019
wyprzedaż
Nota prawna
Polityka prywatności
Kontakt
Przyrządy laboratoryjne