APLIKACJE - metodyki oznaczeń na przyrz±dach AAS / ICP / MP poprzednia wersja: aplikacje
aby uzyskać szczegółowe informacje kliknij na symbol wybranego pierwiastka |
|
Oznaczanie skandu - Sc
|
Liczba atomowa: 21
Masa atomowa: 44.9559
Temperatura topnienia: 1539 °C
Temperatura wrzenia: 2727 °C
|
Wzorce, odczynniki, roztwory pomocnicze do oznaczania skandu - Sc
|

Wzorzec skandu (Sc) do technik |
Stężenie ppm |
Objęto¶ć ml |
Matryca ml |
nr katalogowy Agilent |
MP ICP |
1000 |
100 |
5% HNO3 |
5190-8517 |

|
MP ICP |
1000 |
500 |
5% HNO3 |
5190-8518 |

|
MP ICP |
10000 |
100 |
5% HNO3 |
5190-8446 |

|
MP ICP |
10000 |
500 |
5% HNO3 |
5190-8447 |

|
AAS |
1000 |
50g |
wzorzec olejowy |
5190-8775 |

|
zestawienie wzorców do technik AAS i MP firmy Agilent
wzorce Sc do techniki AAS firmy SPEX
|
AAS/ASA - Lampy z katod± wnękow± HCL - skand
|

LAMPY STANDARDOWE | |
Lampa: Agilent Sc | |
nr katalogowy lampy kodowanej Sc: | Agilent 5610104900 | |
nr katalogowy lampy niekodowanej Sc: | Agilent 5610126900 | |
materiał okna lampy / gaz wypełniaj±cy: | szkło / Ne |
pr±d lampy nominalny / maksymalny | 10 / 15 mA |
| |
| |
Sc - lampy katodowe HCL PHOTRON
Linie widmowe lamp katodowych Sc
Intensywno¶ci względne wybranych linii lampy HCL (100 odpowiada linii o największej intensywno¶ci)
Czuło¶ci względne wybranych linii (100 odpowiada linii o największej/najlepszej czuło¶ci = najmniejsze stęż. charakter.)
Linia Sc | Intensywno¶ć linii: | (100) |
391,2 nm | Czuło¶ć linii: | (100) |
|
Linia Sc | Intensywno¶ć linii: | (20) |
327,4 nm | Czuło¶ć linii: | (33) |
|
Linia Sc | Intensywno¶ć linii: | (10) |
326,9 nm | Czuło¶ć linii: | (20) |
|
|
AAS/ASA - Technika płomieniowa - oznaczanie skandu
|

Pr±d lampy: |  10 mA |
Rodzaj płomienia: |  acetylen-podtlenek azotu - redukuj±cy |

|
Linia analityczna [nm] |
|
|
Szczelina spektralna [nm] |
|
|
Zakres roboczy [ppm] |
|
|
Stężenie charakterystyczne [ppm] |
|
|
Granica wykrywalno¶ci [ppm] |
|
391.2 |
0.2 |
0.5-80 |
0.4 |
|
327.4 |
0.2 |
2-200 |
1.2 |
|
326.9 |
0.2 |
3-320 |
2 |
|
UWAGI: W płomieniu acetylen-podtlenek azotu skand czę¶ciowo jonizuje. Zalecany jest dodatek KNO3 lub KCl na poziomie 2000 ppm (do wzorców, próbek i do ¶lepej).
Nawet niewielkie ilo¶ci siarczanów oraz fluorków bardzo silnie obniżaj± sygnał Sc. Również większo¶ć kationów wpływa na zmianę sygnału Sc. Zalecane jest dokładne odwzorowanie matrycy.
Lampy UltrAA oraz lampy wielopierwiastkowe dla Sc nie s± produkowane.
Linia 391.2 nm znajduje się na granicy działania korekcji D2.
Sugerowane bufory jonizacyjne/czynniki uwalniaj±ce:
K 10000 ppm (1 %) w 2% HCl objęt. 100 ml nr katalog.140-003-361
K 10000 ppm (1 %) w 2% HCl objęt. 250 ml nr katalog.140-003-362
K 10000 ppm (1 %) w 2% HCl objęt. 500 ml nr katalog.140-003-365
K 10000 ppm (1 %) w 2% HNO3 objęt. 100 ml nr katalog.140-003-391
K 10000 ppm (1 %) w 2% HNO3 objęt. 250 ml nr katalog.140-003-392
K 10000 ppm (1 %) w 2% HNO3 objęt. 500 ml nr katalog.140-003-395
K 100000 ppm (10 %) w H2O objęt. 500 ml nr katalog.5190-9420
(Agilent)
|
AAS/ASA - Technika płomieniowa / emisja - oznaczanie skandu
|
|   |
Linia emisyjna: |  402 nm |
Szczelina: |  0.2 nm |
Rodzaj płomienia: |  acetylen-podtlenek azotu |
|   |
|
ICP-OES - oznaczanie skandu
|

Linie ICP dla skandu (poszczególne linie linkuj± do wykresów linii s±siaduj±cych).
 |
Wykres dla linii ICP znajduj±cych się w pobliżu linii skandu 384.303 nm
(okno = ± 0.54 nm).
okno: ± 0,2 0,54 2 nm
Granica wykrywalno¶ci dla linii 361.384 nm: 0.02 ppb
Noty aplikacyjne powi±zane z oznaczaniem Sc technik± ICP-OES / Agilent
Tytuł
|
Pierwiastki Składniki
|
Matryca/img
|
Technika Przyrz±d
|
link
|
rozmiar
|
Determination of rare earth elements in geological samples using the Agilent SVDV ICP-OES Oznaczanie metali ziem rzadkich w próbkach geologicznych technik± Agilent SVDV ICP-OES (5-2016)
|
Dy, Er, Eu, Gd, Ho, La, Lu, Nd, Pr, Sc, Sm, Tb, Th, Tm
|
próbki geologiczne
|
ICP 5100
SVDV
|
|
k
|
Simplify testing of elemental impurities in pharmaceuticals with Agilent’s certified reference materials kit ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit Uproszczenie analiz zanieczyszczeń pierwiastkowych w farmaceutykach przy zastosowaniu zestawu certyfikowanych materiałów odniesienia ICH Q3D/USP <233> Elemental Impurities Kit (5-2017)
|
Hg, As, Cd, Pb, Ni, Ag, Se, V, Tl, Co, Au, Ir, Os, Pd, Pt, Rh, Ru, Cr, Sn, Cu, Mo, Ba, Sb, Li, Te, Sc, Ge, In, Lu, Bi
|
CRM (farmaceutyki)
|
ICP 5110
|
|
k k
|
|